1. Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertaint
پدیدآورنده : / by Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Engineering,Computer hardware,Computer science,Logic design,Operating systems (Computers),Algebra, Data processing,Systems engineering,Electronic books
رده :
E-BOOK
2. Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
پدیدآورنده : / Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : ELECTRONIC& ARCHITECTURE|ENGINEERING, ELECTRICAL &COMPUTER SCIENCE, HARDWARE
رده :
E-BOOK
3. Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
پدیدآورنده : \ Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes
کتابخانه: کتابخانه زبانهای خارجی و منابع اسلامی (قم)
موضوع : Logic circuits -- Design,Logic circuits -- Testing,Uncertainty (Information theory),مدارهای منطقی -- طراحی,مدارهای منطقی -- آزمایش,عدم قطعیت (نظریه اطلاعات)
رده :
E-Book
,
4. Design, analysis and test of logic circuits under uncertainty
پدیدآورنده : Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبانهای اروپایی (قم)
موضوع : Logic circuits-- Design,Logic circuits-- Testing,Uncertainty (Information theory)
رده :
TK7868
.
L6
K75
2013
